АО Технопарк Слава
+7 (495) 478-78-00

Сканирующий электронный микроскоп Carl Zeiss Evo 50 с приставкой для рентгеновского энергодисперсионного микроанализа SDD IXRD systems

Сканирующий микроскоп

Предназначен для получения изображения поверхности образца с большим разрешением.

Характеристики:

· Увеличение: x50 – x200,000

· Разрешение: 2.0 нм (30КВ, SE изображение)

· Ускоряющее напряжение: 1-30кВ

· Электронная пушка: W (Вольфрам)

· Детектор: SE, BSE (во вторичных и обратноотраженных электронах)


Особенности:

· Полностью моторизированный столик, возможность просмотра образцов в геометрии cross-section (под наклоном, определение толщины пленок-покрытий).

· Большой размер камеры, возможность анализа объектов больших размеров.

 

Приставка для рентгеновского энергодисперсионного микроанализа SDD IXRD systems предназначена для неразрушающего микроанализа (измерения массовых долей элементов в микрообъеме) различных пленок и покрытий.


Характеристики:

·  Активная площадь: 10 мм2.

·  Перечень определяемых  элементов: от Бора до Америция.

·  Возможность линейного сканирования по поверхности с определением состава в каждой точке.

·  Возможность построения карты распределения элементов по поверхности.

·  Возможность разрушающего анализа толщины пленок и покрытий.

 

Компания: ЗАО «СуперОкс»

Контактное лицо: Каменев Антон


Тел.: +7 (962) 926 04 91